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半導體計量
理學是設計和制造以X射線為基礎測量工具的前驅者和領導者之一。在半導體領域有將近30年的市場先導作用,我們的產品家族從工廠生產控制到產品研發用于薄膜和材料的表征。
理學是設計和制造以X射線為基礎測量工具的前驅者和領導者之一。在半導體領域有將近30年的市場先導作用,我們的產品家族從工廠生產控制到產品研發用于薄膜和材料的表征。
