Rietveld 分析

Hugo Rietveld 發明，全譜擬合結構精修被廣泛接受，它是幾乎所有晶體材料結構分析極具價值的方法。Rietveld分析類似于X射線熒光（XRF）的基本參數法。 這個軟件細化各種參數——包括：晶格參數，峰的寬度和形狀，擇優取向——推導計算衍射圖樣。一旦派生圖樣與位置樣品數據幾乎相同，可獲得樣品各種屬性包括：精確定量信息，晶體尺寸。提煉圖樣的過程是精密計算的過程，要求數分鐘內計算出多組分混合結果。與傳統定量方法相比，Rietveld分析是先進的，無需標準樣品即可得到±1%以內的精確結果。在此之前，使用粉末衍射進行混合材料的無標精確定量分析是幾乎不可能的。