結構

X射線熒光光譜儀（XRF）和X射線衍射儀(XRD)兩種常用技術無損確定未知樣品組成。X射線熒光光譜儀提供從B到U的成分信息，含量范圍從ppm到百分含量。使用基本參數法，XRF提供無標定量分析。X射線衍射提供相結構識別和區分樣品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括礦物名稱，化學式，晶體系統，并參考ICDD數據庫。XRD使用Rietveld分析也可簡單獲得定量信息。